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圣德科圣德科LCOS空间光调制器自动化测试方法

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产品资讯 2026-08-16 07:30 5 次浏览
圣德科圣德科LCOS空间光调制器自动化测试方法
资讯栏目 · 产品资讯 发布时间 · 2026-08-16

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其实圣德科圣德科LCOS空间光调制器自动化测试方法的问题并不复杂,但是又很多的朋友都不太了解空间光调制器调试线,因此呢,今天小编就来为大家分享圣德科圣德科LCOS空间光调制器自动化测试方法的一些知识,希望可以帮助到大家,下面我们一起来看看这个问题的分析吧! 本文目录一览: 1、

资讯分类 产品资讯
更新时间 2026-08-16 07:30
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液晶空间光调制器波前常用的校准测量方式

液晶空间光调制器波前常用的校准测量方式主要包括以下几种:功率计探测法:原理:通过准直激光照射LCoS,反射光与调制后的光进行干涉,测量光强的变化来评估波前调制性能。特点:操作相对简单,但精度不高,因为非平行光会导致测量误差,且结果反映的是整个液晶层的平均值。

Meadowlark Optics公司已开发出基于SLM的干涉子孔径替代方案,确保SLM的有效通光区域上的像差可被校正至λ/40或更好。通过该方案,矫正后的MLO空间光调制器波前像差变得很低。上海昊量光电设备有限公司提供1920x1200分辨率的标准纯相位液晶空间光调制器和1024x1024分辨率超高速纯相位SLM。

在使用液晶空间光调制器(LCoS SLM)前,对其波前调制性能的校准至关重要。常用的测量方法包括功率计探测法、马赫—曾德干涉、径向剪切干涉和泰曼格林干涉,以及双孔干涉等。

相位型液晶空间光调制器(LC-SLM)的面型性能对于其调制精度和波前控制能力至关重要。

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